Спробуйте новий дизайн сторінки тендера
Звернення до Держаудитслужби
Переглядайте статус на сторінці тендеру
скануючий електронний мікроскоп
Scanning electron microscopes
Scanning electron microscopes
Очікувана вартість
7 000 000,00 UAH
UA-2017-08-29-000417-a ● e41852e1c48c44bcb80c433c397be6f4
Відкриті торги з публікацією англійською мовою
Завершена
Електронний підпис накладено. Перевірити
Оголошення про проведення
Tender notice
Інформація про замовників
Purchasing Body
Найменування: | ДП "КИЇВСЬКИЙ НАУКОВО-ДОСЛІДНИЙ ІНСТИТУТ СУДОВИХ ЕКСПЕРТИЗ МІНІСТЕРСТВА ЮСТИЦІЇ УКРАЇНИ" |
Код ЄДРПОУ: | 02883096 |
Вебсайт: | http://kndise.gov.ua |
Місцезнаходження: | 03680, Україна , Київська область обл., м.Київ, ВУЛИЦЯ СМОЛЕНСЬКА, будинок 6 |
Контактна особа: |
Ірина Волчко +380442002940 glavbuh@kniise.com.ua |
Додаткові контактні особи: |
Олег Посільський +380951488475 VMR@kniise.com.ua |
Категорія: | Юридична особа, яка забезпечує потреби держави або територіальної громади |
Official name: | Kyiv Scientific Research Institute of Forensic Expertise |
National ID: | 02883096 |
Contact point: |
Iryna Volchko +380442002940 glavbuh@kniise.com.ua |
Additional contacts: |
Олег Посільський +380951488475 VMR@kniise.com.ua |
Інформація про процедуру
Milestones
Дата оприлюднення: | 29 серпня 2017 11:31 |
Звернення за роз’ясненнями: | до 19 вересня 2017 13:00 |
Оскарження умов закупівлі: | до 25 вересня 2017 00:00 |
Кінцевий строк подання тендерних пропозицій: | 29 вересня 2017 13:00 |
Початок аукціону: | 10 жовтня 2017 12:24 |
Очікувана вартість: | 7 000 000,00 UAH з ПДВ |
Розмір мінімального кроку пониження ціни: | 10 000,00 UAH |
Розмір мінімального кроку пониження ціни, %: | 0,14% |
Publication date: | 29 серпня 2017 11:31 |
Enquiries until: | 19 вересня 2017 13:00 |
Complaints submission until: | до 25 вересня 2017 00:00 |
Time limit for receipt of tenders: | 29 вересня 2017 13:00 |
Information
Estimated total value: | 7 000 000 UAH including VAT |
Minimal lowering step: | 10 000 UAH |
Minimal lowering step, %: | 0,14 % |
Інформація про предмет закупівлі
Scope of the procurement
Опис окремої частини або частин предмета закупівлі
1 комплект
скануючий електронний мікроскоп
Місце поставки товарів або місце виконання робіт чи надання послуг:
03057, Україна, Київ, Київ, Смоленська, 6
ДК 021:2015: 38511100-1 — Електронні сканувальні мікроскопи
Scanning electron microscopes
CPV: 38511100-1
Період постачання:
з 01 жовтня 2017 по 31 грудня 2017
Тендерна документація
Критерії вибору переможця
Ціна: | 100% |
29 серпня 2017 12:25 |
Файл з підписом | Друкувати оголошення PDF |
29 серпня 2017 12:03 |
Додаток 2 до тендерної документації.docx | |
29 серпня 2017 11:31 |
dod1 microskope.docx | |
29 серпня 2017 11:31 |
Проект договору мікроскоп.docx | |
29 серпня 2017 11:31 |
tenderna doc microsc scan.docx |
29 серпня 2017 12:25 |
Файл з підписом
Друкувати оголошення PDF
|
||||||
29 серпня 2017 12:03 |
Додаток 2 до тендерної документації.docx
|
||||||
29 серпня 2017 11:31 |
dod1 microskope.docx
|
||||||
29 серпня 2017 11:31 |
Проект договору мікроскоп.docx
|
||||||
29 серпня 2017 11:31 |
tenderna doc microsc scan.docx
|
Роз’яснення до процедури
Запитання до процедури
Щодо технічних параметрів обладнання
Дата подання: 14 вересня 2017 09:38
Дата відповіді: 15 вересня 2017 15:40
Просимо Замовника, розглянути можливість розширення технічних вимог до скануючого електронного мікроскопу, задля збільшення можливого кола учасників.
Запропоновані зміни стосуються наступних пунктів технічних вимог:
1. Просимо замінити п.1 технічного завдання, що стосується Електронно-оптичної системи: “чотирьохлінзовий пристрій електронної оптики: додаткова проміжна магнітна лінза, крім традиційних двох конденсорних і однієї об'єктивної лінзи, для отримання додаткових режимів сканування зразка, оскільки основна характеристика приладу (роздільна здатність) досягається в модерних приладах і при використанні іншої (трьохлінзової) конструкції колони. Пропонуємо наступні зміни:
“не менше як трьох лінзовий пристрій електронної оптики, що гарантує досягнення роздільної здатності не більше ніж 3нм, при прискорюючій напрузі 30кВт (при роботі у високому вакумі»
Дані зміни дозволить, суттєво розширити потенційне коло учасників, значно розширить можливе коло учасників
2. Просимо розширити вимоги пункту 1, підпункту Електронно-оптична система: “центрування колони електромагнітною системою, виключаючи механічне центрування (блок зміни об'єктних діафрагм повинен бути відсутнім) та замінити вимоги технічного завдання на “центрування колони механічною та електромагнітною системою».
Дана прохання зумовлено тим, що виробники електронних скануючих мікроскопів використовують одночасно обидві системи центрування колони – механічну та електромагнітну, що дозволяє розширити функціональні можливості приладу та зменшує вартість обслуговування мікроскопа за рахунок того, що сервісні роботи по заміні апертур може виконувати користувач, обслуговування не потребує виклику сервісного інженера.
3. Просимо замінити вимоги пункту що стосуються Збільшення, а саме «Плавного регулювання збільшення в діапазоні від 3 × до 1 000 000 × без спотворень і викривлень поля зору у всьому діапазоні» на «Плавне регулювання збільшення в діапазоні від 5 × до 1 000 000 × без спотворень і викривлень поля зору у всьому діапазоні» оскільки ціллю використання скануючого електронного мікроскопа є вивчення зразків при великих збільшення (від 100х та більше) з великою роздільною здатністю та глибиною різкості, а для малих збільшень використовують стереоскопічні мікроскопи. Дані зміни дозволить, суттєво розширити потенційне коло учасників, значно розширить можливе коло учасників
4. Просимо внести замінити до вимоги п «Діапазон нахилу не менш ніж від -80о до +80о» на «Діапазон нахилу не менш ніж від 0о до +80о». оскільки дана зміна значно розширить можливе коло учасників, що призведе до чесної і вільної конкуренції як результат економії бюджетних коштів.
5. Просимо внести замінити до вимоги пункту 1, підпункті Столик і камера зразків, що стосується «столик зразків мікроскопа із вмонтованими, не менше двох, циліндрів Фарадея для вимірювання струму пучка» та пропонуємо замінити його на «столик зразків мікроскопа із вмонтованими циліндром Фарадея». Наявність двох циліндрів Фарадея було обумовлена тим, що при ручному керуванні столиком користувач міг швидко перемістити столик до ближчого циліндру та провести виміри струму пучка електронів. Сучасні скануючи електроні мікроскопи оснащені спеціальним програмним забезпечення для керування столиками зразків, яке дозволяє запрограмувати положення циліндру і провести виміри току в лічені секунди. Дана зміна значно розширить можливе коло учасників, що призведе до чесної і вільної конкуренції як результат економії бюджетних коштів.
6. Просимо внести замінити до вимоги пункту «Максимальне поле огляду (при найменшому збільшенні) не менше 70 мм.» оскільки поле огляду залежить не тільки від збільшення, а ще від робочої відстані (дистанція між зразком та полюсним оконечником). Просимо змінити вимоги пункту на «Максимальне поле огляду на аналітичній відстані не менш 6 мм». Дана зміна значно розширить можливе коло учасників, що призведе до чесної і вільної конкуренції як результат економії бюджетних коштів.
Впевненні, що внесення запропонованих змін, суттєво розширити потенційне коло учасників, розширить конкуренцію та як наслідок, дозволить більш ефективно та економно провести закупівлю.
В разі неприйнятності запропонованих змін, просимо пояснити неможливість їх внесення.
Розгорнути
Згорнути
Відповідь: доброго дня! на ваш запит повідомляємо наступне:
щодо п. 1
Як зазначено у п. 1 специфікації (додаток 1 до ТД), використання проміжної лінзи викликано необхідністю проведення досліджень зразків у додаткових режимах сканування, а саме: при підтриманні широкого поля зору при різних робочих відстанях, що в свою чергу вимагає оптимізації апертури пучка. Саме 4-х лінзова система об'єктиву дозволяє спеціалістам швидко змінювати параметри пучка (наприклад, струм і розмір області дослідження) без будь-яких механічних переміщень апертури. Це також дозволяє поступово йти від дуже низького збільшення (огляд для навігації) до великого збільшення (конкретна область, що представляє інтерес).
щодо п. 2
Згідно вимог Закону України від 11.01.2000 № 1370-XIV «Про дозвільну діяльність у сфері використання ядерної енергії» сервісне обслуговування електронних мікроскопів можливо лише сертифікованими спеціалістами та ліцензованими (Державною інспекцією з радіаційного регулювання) організаціями за наявності відповідності ліцензії, тому механічні втручання працівниками Інституту, суперечитимуть нормативним вимогам Закону. Таким чином, зазначена опція не зможе бути використана ніким із персоналу, який працюватиме зі скануючим електронним мікроскопом.
Окрім того, хочемо зазначити, що функція електромагнітного центрування колони повністю задовольняє вимоги щодо проведення аналізу зразків у судовій експертизі та унеможливлює внесення випадкових змін у центрування колони.
щодо п. 3
Особливість аналізу зразків для цілей судової експертизи вимагає не лише їх детального аналізу при максимальному збільшенні, але і попереднього огляду всього зразка при незначних збільшеннях (чим менше, тим краще) для визначення зон послідуючого детального мікроскопічного та енергодисперсійного аналізу, що у свою чергу зумовлено великим розміром зразків, більше 70 мм.
щодо п. 4
Як зазначено у відповіді на п.3, особливість аналізу зразків у судовій експертизі вимагає їх дослідження з усіх ракурсів та під різними кутами, тому можливість зміни кута нахилу у різні сторони критично необхідна без зміни положення зразка на столику (обертання, переміщення) для збереження точного місця аналізу та отримання максимальної інформації мікроскопічного та елементного аналізу
щодо п. 5
При здійсненні аналізу напівпровідникових зразків великого розміру, що є одним із завдань судової експертизи, існує ризик отримання недостовірної інформації про струм пучка, тому для виконання аналізу зразків такого типу необхідна наявність двох циліндрів Фарадея
щодо п. 6
Як зазначено у відповіді на п.1, та враховуючи вказане у п. 3 і 4, здійснення аналізу зразків у судовій експертизі вимагає їх огляду у широкому полі, тому замість зазначеного у специфікації (додаток 1 до ТД) можемо запропонувати наступні зміни у даному пункті — «Максимальне поле огляду на аналітичній відстані не менше 10 мм».
Додатково до вищенаведеного можна зазначити, що фахівцями інституту попередньо вивчені вимоги до приладів,які використовуються у практиці дослідження об’єктів судової експертизи в провідних криміналістичних лабораторіях. Також, попередньо нами були вивчені ринкові пропозиції різних виробників скануючих електронних мікроскопів та отримано кілька пропозицій, характеристики яких повністю відповідають зазначеним у ТЗ вимогам.
щодо п. 1
Як зазначено у п. 1 специфікації (додаток 1 до ТД), використання проміжної лінзи викликано необхідністю проведення досліджень зразків у додаткових режимах сканування, а саме: при підтриманні широкого поля зору при різних робочих відстанях, що в свою чергу вимагає оптимізації апертури пучка. Саме 4-х лінзова система об'єктиву дозволяє спеціалістам швидко змінювати параметри пучка (наприклад, струм і розмір області дослідження) без будь-яких механічних переміщень апертури. Це також дозволяє поступово йти від дуже низького збільшення (огляд для навігації) до великого збільшення (конкретна область, що представляє інтерес).
щодо п. 2
Згідно вимог Закону України від 11.01.2000 № 1370-XIV «Про дозвільну діяльність у сфері використання ядерної енергії» сервісне обслуговування електронних мікроскопів можливо лише сертифікованими спеціалістами та ліцензованими (Державною інспекцією з радіаційного регулювання) організаціями за наявності відповідності ліцензії, тому механічні втручання працівниками Інституту, суперечитимуть нормативним вимогам Закону. Таким чином, зазначена опція не зможе бути використана ніким із персоналу, який працюватиме зі скануючим електронним мікроскопом.
Окрім того, хочемо зазначити, що функція електромагнітного центрування колони повністю задовольняє вимоги щодо проведення аналізу зразків у судовій експертизі та унеможливлює внесення випадкових змін у центрування колони.
щодо п. 3
Особливість аналізу зразків для цілей судової експертизи вимагає не лише їх детального аналізу при максимальному збільшенні, але і попереднього огляду всього зразка при незначних збільшеннях (чим менше, тим краще) для визначення зон послідуючого детального мікроскопічного та енергодисперсійного аналізу, що у свою чергу зумовлено великим розміром зразків, більше 70 мм.
щодо п. 4
Як зазначено у відповіді на п.3, особливість аналізу зразків у судовій експертизі вимагає їх дослідження з усіх ракурсів та під різними кутами, тому можливість зміни кута нахилу у різні сторони критично необхідна без зміни положення зразка на столику (обертання, переміщення) для збереження точного місця аналізу та отримання максимальної інформації мікроскопічного та елементного аналізу
щодо п. 5
При здійсненні аналізу напівпровідникових зразків великого розміру, що є одним із завдань судової експертизи, існує ризик отримання недостовірної інформації про струм пучка, тому для виконання аналізу зразків такого типу необхідна наявність двох циліндрів Фарадея
щодо п. 6
Як зазначено у відповіді на п.1, та враховуючи вказане у п. 3 і 4, здійснення аналізу зразків у судовій експертизі вимагає їх огляду у широкому полі, тому замість зазначеного у специфікації (додаток 1 до ТД) можемо запропонувати наступні зміни у даному пункті — «Максимальне поле огляду на аналітичній відстані не менше 10 мм».
Додатково до вищенаведеного можна зазначити, що фахівцями інституту попередньо вивчені вимоги до приладів,які використовуються у практиці дослідження об’єктів судової експертизи в провідних криміналістичних лабораторіях. Також, попередньо нами були вивчені ринкові пропозиції різних виробників скануючих електронних мікроскопів та отримано кілька пропозицій, характеристики яких повністю відповідають зазначеним у ТЗ вимогам.
Протокол розгляду тендерних пропозицій
Переглянути / друкувати протокол
розгляду тендерних пропозицій з інформацією про підстави відхилення PDF ●
HTML
Дата публікації
: 04 жовтня 2017
Найменування: | ДП "КИЇВСЬКИЙ НАУКОВО-ДОСЛІДНИЙ ІНСТИТУТ СУДОВИХ ЕКСПЕРТИЗ МІНІСТЕРСТВА ЮСТИЦІЇ УКРАЇНИ" |
Код ЄДРПОУ: | 02883096 |
Місцезнаходження: | 03680, Україна, Київська область обл., м.Київ, ВУЛИЦЯ СМОЛЕНСЬКА, будинок 6 |
Учасник | Документи | Рішення |
---|---|---|
ТОВАРИСТВО З ОБМЕЖЕНОЮ ВІДПОВІДАЛЬНІСТЮ "НОВАЦІЇ" | Документи |
Допущено до аукціону
Документи
|
ПП "Виробничо-комерційна фірма "SUMY ELECTRON OPTICS"" | Документи |
Допущено до аукціону
Документи
|
Реєстр пропозицій
Дата і час розкриття: 10 жовтня 2017 12:45
Учасник | Первинна пропозиція | Остаточна пропозиція | Документи |
---|---|---|---|
ТОВАРИСТВО З ОБМЕЖЕНОЮ ВІДПОВІДАЛЬНІСТЮ "НОВАЦІЇ" |
6 984 000,00
UAH з ПДВ
|
6 974 000,00
UAH з ПДВ
|
Документи |
ПП "Виробничо-комерційна фірма "SUMY ELECTRON OPTICS"" |
6 999 990,00
UAH з ПДВ
|
6 999 990,00
UAH з ПДВ
|
Документи |
Протокол розкриття
Учасник | Рішення | Пропозиція | Опубліковано |
---|---|---|---|
ТОВАРИСТВО З ОБМЕЖЕНОЮ ВІДПОВІДАЛЬНІСТЮ "НОВАЦІЇ" #34184403 |
Переможець |
6 974 000,00
UAH з ПДВ
|
11 жовтня 2017 11:14
|
Укладений договір
Контракт | Статус | Опубліковано |
---|---|---|
Електронний підпис | укладений |
24 жовтня 2017 14:27
|
dog.pdf | укладений |
24 жовтня 2017 14:08
|